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探讨膜厚测试仪在测量时需要注意的事项!
点击次数:341 发布时间:2019-12-03
       膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
  台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
  膜厚测试仪测量时需要注意的事项:
  1、首先大家在用测量仪进行测试使用时,要选用与试件相似的金属磁性标准片来进行测量,不要选择差别或者区分过大的标准片来试验测量,不然会导致很大的测量误差。
  2、其次用户需要把测量仪的侧头与试样表面保持垂直,不要出现任何的倾斜,否则不利于测量工作的顺利展开,会让测量任务半途而废的,变得毫无意义。
  3、我们要把膜厚测量仪放置在没有磁性干扰的场所来进行测试,否则会对仪器的测量性能造成影响,使得测量仪器不能够发挥出应有的测量水平来。
  4、用户在进行测量仪的测量过程中,需要保持压力的恒定,不然很容易影响到测量的读数,会给大家带来不利的影响,让大家不能记录到正确化的读数结果。
  5、测量仪在使用时要让仪器测头和被测试件有直接性接触,如果两种之间有杂质存在的话,需要先进行清理方可再展开测量工作。
  6、大家在使用膜厚测量仪进行测试的时候,不要在内转角处和靠近试件边缘处进行测量,这样会造成测量结果的误差,会给我们带来不便性的。让测量出来的数据是没有任何参考价值意义的。

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